场发射透射电子显微镜 FE-TEM 资产编号201749007 规格/型号Talos F200X/TALOS F200X 产地中国 性能指标加速电压: 200 KV 电子枪:肖特基热场发射 TEM点分辨率:0.25nm TEM信息分辨率: 0.12 nm STEM分辨率: 0.16 nm 样品倾斜角度X/Y:±30o 能谱能量分辨率:136 ev 元素检测范围
场发射透射电子显微镜

场发射透射电子显微镜

产品详情

场发射透射电子显微镜

FE-TEM

资产编号201749007
规格/型号Talos F200X/TALOS F200X
产地中国
性能指标加速电压: 200 KV 电子枪:肖特基热场发射 TEM点分辨率:0.25nm TEM信息分辨率: 0.12 nm STEM分辨率: 0.16 nm 样品倾斜角度X/Y:±30o 能谱能量分辨率:136 ev 元素检测范围:B~U元素
主要应用对各种材料内部微结构进行观察粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察选区电子衍射和晶体结构分析金属、陶瓷、半导体、塑料、等显微结构分析配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析,以及各种元素进行定性和半定量微区分析;元素检测范围:B~U元素
样品要求1、 透射电镜不能直接观察含有铁钴镍元素的样品,请包埋切片或FIB切片后,做TEM实验。 2、 透射电镜能够观察200nm以下的样品; 3、 对于粉末和液体样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥,能够区分正反面; 4、 对于块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下; 5、 高分辨样品要求厚度在10nm以下。
仪器说明FEI Talos F200X 场发射透射电镜的电子枪为肖特基热场发射超亮电子枪,STEM 分辨率可以达到0.16nm。配备4个SDD探头的超级能谱集成到了透射电镜的极靴里面,对称地放在样品的上方,可以高效率探测到微量元素,以及材料成分在一维,二维,甚至三维空间的分布信息。Talos F200X还安装了STEM明场和暗场探头,可以同时得到STEM的明场像和暗场像。

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